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Cet instrument mesure les diagrammes de diffraction des rayons
X sur des échantillons polycristallins. Il utilise un
détecteur multicanaux haute résolution permettant
l'acquisition rapide des diagrammes (parfois en moins de une
minute).
Cet appareil est employé pour les mesures de routine lorsque
l'on dispose d'une bonne quantité d'échantillon. Il inclut
une passeur automatique d'échantillons mais il peut aussi être
utilisé avec une chambre adaptée pour les études à température
variable.
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